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2025-12-30
在光通信、激光點(diǎn)火起爆及各類(lèi)高精度光控制系統中,微小型光開(kāi)關(guān)作為關(guān)鍵光學(xué)器件,其性能直接影響到整個(gè)系統的可靠性與效率。長(cháng)期以來(lái),側壁反射鏡的表面粗糙度過(guò)大導致光路傳輸效率低下,一直是行業(yè)面臨的技術(shù)瓶頸。一項結合電感耦合等離子體(ICP)與聚焦離子束(FIB)刻蝕的創(chuàng )新工藝,成功將微小型光開(kāi)關(guān)的側壁反射鏡表面粗糙度由190nm大幅降低至56nm,并使光路傳輸效率從10.2%顯著(zhù)提升至39.1%,為光開(kāi)關(guān)性能優(yōu)化提供了明確可行的技術(shù)路徑。
行業(yè)背景與技術(shù)挑戰
微小型光開(kāi)關(guān),尤其是反射式光開(kāi)關(guān),因其結構緊湊、抗沖擊性能好,在引信安全、光通信交換等場(chǎng)景中廣泛應用。傳統制造工藝,如ICP或CMOS工藝,在刻蝕高深寬比結構時(shí),容易在硅襯底側壁形成粗糙表面。這種粗糙表面對光線(xiàn)產(chǎn)生嚴重散射,導致光信號在傳輸過(guò)程中損失巨大,整體光路效率低下,嚴重限制了器件在高要求環(huán)境下的應用。
因此,如何在微米甚至納米尺度上,對側壁反射鏡進(jìn)行高精度、低粗糙度的表面加工,成為行業(yè)亟待解決的關(guān)鍵問(wèn)題。
創(chuàng )新工藝:ICP與FIB雙工藝結合
為解決上述難題,研究團隊提出并驗證了一套創(chuàng )新的兩步加工法:
1. 初步結構成型——ICP刻蝕
首先,采用雙面ICP刻蝕工藝在SOI硅片上一體化加工出微小型光開(kāi)關(guān)的基本結構。該步驟效率高,適合定義器件的整體三維輪廓,如圖1所示(加工流程圖)及圖2所示(制成的光開(kāi)關(guān)SEM圖)。

圖1:微小型光開(kāi)關(guān)的加工流程圖

圖2:采用雙面ICP刻蝕工藝制成的微小型光開(kāi)關(guān)SEM圖
2. 表面精密拋光——FIB刻蝕
在獲得基礎結構后,關(guān)鍵步驟是利用聚焦離子束(FIB)刻蝕技術(shù)對側壁反射鏡面進(jìn)行“精加工”。如圖3所示,通過(guò)精確控制高能離子束以特定角度轟擊側壁表面,可逐層、均勻地去除表面材料,實(shí)現原子級別的平滑處理。

圖3:FIB加工微小型光開(kāi)關(guān)側壁反射鏡面示意圖
工藝效果驗證:粗糙度與光效率雙提升
為了量化工藝效果,研究團隊采用掃描電子顯微鏡(SEM)和原子力顯微鏡(AFM)對加工前后的表面形貌進(jìn)行了細致表征,并搭建了專(zhuān)用的光路傳輸效率測試系統(如圖4)進(jìn)行性能驗證。

圖4:光路傳輸效率測試系統示意圖
表面粗糙度變化
SEM圖像清晰展示了FIB刻蝕前后的巨大差異。未經(jīng)處理的側壁表面凹凸不平(圖5c),而經(jīng)過(guò)FIB處理后的表面則變得異常光滑平整(圖5d)。

圖5:側壁反射鏡FIB刻蝕前后的SEM對比圖
研究進(jìn)一步探索了離子劑量(單位面積照射的離子量)對拋光效果的影響。通過(guò)設置不同離子劑量進(jìn)行矩形區域刻蝕實(shí)驗,AFM測量結果(圖6)表明,隨著(zhù)離子劑量的增加,刻蝕溝槽底部越來(lái)越平滑,整體表面粗糙度持續下降。

圖6:不同離子劑量刻蝕后側壁的AFM形貌圖
圖7的數據曲線(xiàn)直觀(guān)地反映了這一規律:當離子劑量達到最優(yōu)值 時(shí),側壁反射鏡的表面粗糙度從原始的190 nm銳減至56 nm。

圖7:側壁反射鏡表面粗糙度隨離子劑量的變化曲線(xiàn)
光路傳輸效率躍升
表面粗糙度的降低直接帶來(lái)了光學(xué)性能的飛躍。如圖8所示,光路傳輸效率隨離子劑量增加而同步提升。未經(jīng)FIB處理的光開(kāi)關(guān),其效率僅為10.2%。而經(jīng)過(guò)最優(yōu)劑量FIB刻蝕后,效率飆升至39.1%,提升幅度接近300%。這一數據充分證明了該工藝對提升微小型光開(kāi)關(guān)整體性能的決定性作用。

圖8:光路傳輸效率隨離子劑量的變化曲線(xiàn)
技術(shù)意義與行業(yè)應用前景
本研究成功驗證了“ICP宏觀(guān)成型 + FIB微觀(guān)拋光”雙工藝組合在解決側壁反射鏡表面質(zhì)量問(wèn)題上的卓越有效性。它不僅提供了一種可重復、高精度的加工方法,更重要的是為微小型光開(kāi)關(guān)的性能指標提升找到了關(guān)鍵突破口。
更高的光路傳輸效率意味著(zhù):
更低的系統功耗:在光通信系統中,減少光損失可直接降低對激光光源功率的要求。
更高的信號完整性:在傳感和起爆系統中,更強的信號意味著(zhù)更高的可靠性和安全性。
拓寬應用場(chǎng)景:使得微小型光開(kāi)關(guān)能夠滿(mǎn)足更苛刻環(huán)境(如高振動(dòng)、高沖擊)下的應用需求,尤其在航空航天、國防軍工等領(lǐng)域價(jià)值巨大。
擇合適的光開(kāi)關(guān)等光學(xué)器件及光學(xué)設備是一項需要綜合考量技術(shù)、性能、成本和供應商實(shí)力的工作。希望本指南能為您提供清晰的思路。我們建議您在明確自身需求后,詳細對比關(guān)鍵參數,并優(yōu)先選擇像科毅光通信這樣技術(shù)扎實(shí)、質(zhì)量可靠、服務(wù)專(zhuān)業(yè)的合作伙伴。
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(注:本文部分內容由AI協(xié)助習作,僅供參考)
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